AEC-Q100 certifieringstestning

AEC-Q100 certifieringstestning
Detaljer:
AEC-Q tekniska team av GRGT Failure Analysis Laboratory har utfört ett stort antal AEC-Q-testfall och samlat på sig rik erfarenhet av certifieringstestning, vilket kan ge dig mer professionella och pålitliga AEC-Q100 certifieringstesttjänster.
Skicka förfrågan
Hämta
Beskrivning
Tekniska parametrar
Tjänstens innehåll

 

IC, som en viktig fordonskomponent, är ett viktigt område för kontinuerlig uppmärksamhet för AEC-kommittén. Tillförlitlighetstestningen av AEC-Q100 på IC:er kan delas in i accelererad miljöbelastningspålitlighet, accelererad livslängdssimuleringspålitlighet, förpackningspålitlighet, waferprocesspålitlighet, elektrisk parameterverifiering, defektscreening, förpackningsintegritetstestning och testförhållandena måste väljas baserat på på den temperaturnivå som enheten tål.

 

Verifieringen avAEC-Q100 certifieringstestningkräver samarbete mellan waferleverantörer och förpacknings- och testfabriker, vilket ytterligare testar certifieringstestningens övergripande kontrollförmåga. RGT kommer att utvärdera kundernas IC:er baserat på deras krav och standarder, och tillhandahålla en rimlig certifieringsplan för att hjälpa till med tillförlitlighetscertifieringen av IC:er.

 

Testcykel

 

Ungefär 3-4 månader.

 

Testföremål

 

S/N

Testartikeln

Förkortning

Provnummer/batch

Batchnummer

Testmetod

Grupp A Accelererat miljöstresstest

A1

Förkonditionering

PERSONDATOR

77

3

J-STD-020,

JESD22-A113

A2

Temperatur-fuktighet-bias

THB

77

3

JESD22-A101

Partisk HAST

HASTIGA

JESD22-A110

A3

Autoklav

AC

77

3

JESD22-A102

Opartisk HAST

UHST (UHST)

JESD22-A118

Temperatur-fuktighet (utan bias)

Þ

JESD22-A101

A4

Temperatur cykling

TC

77

3

JESD22-A104, Bilaga 3

A5

Power Temperatur cykling

PTC (PTC)

45

1

JESD22-A105

A6

Lagringstid vid hög temperatur

HSTL (på engelska)

45

1

JESD22-A103

Grupp B Accelererat livstidssimuleringstest

B1

Hög temperatur livslängd

HTOL

77

3

JESD22-A108

B2

Frekvens för tidiga misslyckanden i livet

ELFR

800

3

AEC-Q100-008

B3

NVM-uthållighet, datalagring och operativ livslängd

EDR (EDR)

77

3

AEC-Q100-005

Grupp C Inkapslingsintegritetstestning

C1

Wire Bond Shear

WBS

30 anslutningstrådar i minst 5 enheter

AEC-Q100-001,AEC-Q003

C2

Tråd Bond Dra

WBP (vitolja)

MIL-STD883-metod 2011,

AEC-Q003

C3

Lödbarhet

SD

15

1

JESD22-B102或 J-STD-002D

C4

Fysiska dimensioner

PD

10

3

JESD22-B100, JESD22-B108

AEC-Q003

C5

Löd kulsax

SBS

Minst 5 limningskulor för 10 enheter

3

AEC-Q100-010,

AEC-Q003

C6

Ledarintegritet

LI

Minst 10 avledningar för 5 enheter

1

JESD22-B105

Grupp D Wafer tillverkning tillförlitlighet testning

D1

Elektromigrering

EM

/

/

/

D2

Tidsberoende dielektrisk nedbrytning

TDDB

/

/

/

D3

Hot Carrier Injection

HCI (HCI)

/

/

/

D4

Negativ bias temperaturinstabilitet

NBTI (på engelska)

/

/

/

D5

Stressmigrering

SM

/

/

/

Grupp E Elektrisk verifieringsprovning

E1

För- och efterstressfunktion/parameter

TESTA

Alla prover som krävs för stresstestning vid elektrisk provning

Leverantörs- eller användarspecifikationer

E2

Elektrostatisk urladdning Människokroppsmodell

HBM

Referens testspecifikation

1

AEC-Q100-002

E3

Elektrostatisk urladdning laddad enhetsmodell

CDM (CDM)

Referens testspecifikation

1

AEC-Q100-011

E4

Lås upp

LU

6

1

AEC-Q100-004

E5

Eldistributioner

ED

30

3

AEC Q100-009

AEC Q003

E6

Felgradering

FG

-

-

AEC-Q100-007

E7

Karakterisering

RÖDING

-

-

AEC-Q003

E9

Elektromagnetisk kompabilitet

EMC

1

1

SAE J1752/3-

E10

Kortslutningskarakterisering

SC

10

3

AEC-Q100-012

E11

Mjuk felfrekvens

SER

3

1

JEDEC (JEDEC)

JESD89-1

JESD89-2 eller JESD89-3

E12

Bly (Pb) Fri

LF

Referens testspecifikation

Referens testspecifikation

AEC-Q005

Grupp F Defektscreeningtest

F1

Processgenomsnittstestning

KLAPPA

/

/

AEC-Q001

F2

Statistisk fack/avkastningsanalys

SBA

/

/

AEC-Q002

Grupp G Försegling och förpackningsintegritetstestning

G1

Mekanisk chock

FRÖKEN

15

1

JESD22-B104

G2

Variabel frekvens vibration

VFV

15

1

JESD22-B103

G3

Konstant acceleration

CA

15

1

MIL-STD883-metod 2001

G4

Grovt/fint läckage

GFL (GFL)

15

1

MIL-STD883 Metod 1014

G5

Paket Drop

SLÄPPA

5

1

/

G6

Lock Vridmoment

LT

5

1

MIL-STD883-metod 2024

G7

Die Shear

DS

5

1

MIL-STD883-metod 2019

G8

Inre vattenånga

IWV (på engelska)

5

1

MIL-STD883 Metod 1018

 

 

Populära Taggar: aec-q100 certifieringstestning, Kina aec-q100 certifieringstestning tjänsteleverantör, Frakturfelanalys, Misslyckande analys för att uppnå affärsmål, Operativt felanalys, Misslyckande analys inom logistikindustrin, Misslyckande analys för att ha bidragit till samhället, Misslyckande analys för att förbättra produktfunktionerna

Skicka förfrågan