AEC-Q 104 certifieringstestning

AEC-Q 104 certifieringstestningär en certifieringsspecifikation för stresstestning för fordonskomponenter med flera chip (MCM) baserad på felmekanismer. MCM multichipmodulspecifikationen löser problemet med huruvida IC-designtillverkare och Tier 1-fordonsmodulsleverantörer ska följa IC- eller modulspecifikationer i komplexa multichipformer som MCM, System In Package (SIP) och Stacked Chip. Det är också första gången i bilindustrins standarder som testprojektet Board Level Reliability (BLR) för bilbruk har definierats.

Komponenter för flera chip för fordon

●Grupp A: Accelererad miljöstresstestning (6 artiklar)

● Grupp B: Accelerated Life Simulation Test (3 objekt)

●Grupp C: Förpacknings- och monteringsintegritetstestning (8 artiklar)

● Grupp D: Tillförlitlighetstestning av wafertillverkning (5 artiklar)

● Grupp E: Bekräftelsetest av elektriska egenskaper (10 artiklar)

● Grupp F: Defekt screeningövervakningstest (2 artiklar)

● Grupp G: Integritetstestning av lufttäta enheter (8 artiklar)

● Grupp H: Modulspecifik testning (7 artiklar)

Ungefär 2-3 månader

Populära Taggar: aec-q 104 certifieringstestning, Kina leverantör av aec-q 104 certifieringstestning, Misslyckande analys för att förbättra produktfunktionerna, korrosionsfelanalys, Misslyckande analys för att uppnå affärsmål, Operativt felanalys, Misslyckande analys för att ha bidragit till samhället, Misslyckande analys för att öka lönsamheten